Ausstattung

Hier finden Sie eine Auflistung der Geräte

Zeiss Auriga

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Ionensäule, EDS-System, EBSD-System und in-Situ Einrichtung

  • Auflösung REM: 1 nm bei 15 kV
  • Auflösung Ionensäule: 7 nm bei 30 kV

Das hochauflösende Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, welche eine Adaption an verschiedenste Fragestellungen ermöglichen: SE und 4 Quadranten BSE Detektor, Inlens SE und Inlens ESB Detektor; SI Detektor, STEM Detektor, GIS System mit Ladungskompensator; Tomographie über Bildstapel; Zielpräparation für das TEM, Zug-Druck Modul für in-Situ Experimente mit 5 kN Last bei bis zu 800 °C

Zeiss EVO 15

Rasterelektronenmikroskop (LaB6) mit EDS-System; Abbildung mit hoher Tiefenschärfe; SE-Detektor (Everhart-Thornley) für Topografie, 5 Sektoren HDBSD-Detektor für Materialkontrast und Kristallorientierung; C2DX-Detektor für die erweiterten Druckanwendungen und der Abbildung von Proben in vollständig hydratisierter Form; Probenkippung möglich; Auflösung min. 5 nm bei 30 kV und 10 pA; Erweiterte Tiefenschärfe und Weitfeldabbildungen für große Proben; Aufnahmen sind unter Cryo-Bedingungen (bis -170°C) mithilfe eines Cryohalters möglich, unter variablem Druck (je nach Modus 10-4000 Pa) und unter erhöhter Luftfeuchtigkeit (bis ca. 100% H2O mithilfe eines Peltier-Probenkühltisches) zur Dokumentation hydratisierter Proben einstellbar

JEOL JSM 6400

Rasterelektronenmikroskop mit EDS-System; Abbildung mit hoher Tiefenschärfe; großer Arbeitsabstand; Das System ist ideal geeignet für die Untersuchung unebener Proben, wie zum Beispiel Bruchstrukturen; SE und BSE Detektor; Compo Modus, der Topographie und chemischen Kontrast kombiniert

JEOL JSM 2010F

Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit STEM Modus und EDS-System

  • Punktauflösung 0,2 nm;

Das TEM eignet sich besonders für das Studium von Ausscheidungen, Grenzflächen und Versetzungsstrukturen. Die Kombination von STEM Modus mit dem EDS System erlaubt die Aufnahme von Elementverteilungsbilder mit einer Auflösung besser 1 nm. Eine piezogesteuerte Probenbühne erlaubt die erschütterungsfreie Probenpositionierung

Thermo Scientific Spectra 300

Aktuell im Aufbau: Thermo Scientific Spectra 300

Schottky-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (30-300kV) mit Cs S-CORR Probenkorrektor für optimalen STEM-Betrieb;

Punktauflösung: 100 pm im TEM-Betrieb @300 kV oder 50 pm im STEM-Betrieb @300 kV oder 125 pm im STEM-Betrieb @30 kV); Das Gerät verfügt über einen Monochromator (mit Autoalignment) für optimale Energieauflösung und zur Steuerung des Strahlstroms (z.B. 0,14 nm Spotsize bei 0,3 eV und 0,5 nA @300 kV oder 0,14 nm Spotsize bei 0,2 eV und 0.1 nA @ 60 kV).

Dieses Hochleistungs-TEM ist für den STEM-Betrieb optimiert, wo es die derzeit höchsten Spezifikationen erfüllen kann. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von Detektoren und Systemen für die quantitative Analyse bei höchst Auflösung ausgestattet, um ein möglich breites Spektrum an Fragestellungen abzudecken. Dazu zählen spezielle STEM-Detektoren (BF, ADF, HAADF, iDPC) und der 4D-STEM Direktelektronendetektor Quantum Merlin für schnelle in-situ Aufnahmen (bis zu 2400 Hz) oder Aufnahmen von äußerst sensitiven Proben (ab 24 bit/px), eine Ceta 16M Kamera (4K x 4K bei 40 fps und 512x512 mit 320 fps), das empfindliche und probenneigungsunabhängige Super-X EDS-System (<136 eV, 0,7 sr, Fiori-Zahl > 4000) und das EELS Continuum S/1077 Spektrometer für bis zu 2600 Spektren/s im Bereich 30-300 kV.

Zur weiteren Ausstattung gehört ein Gatan Elsa Kryotransferhalter für Aufnahmen unter Kryobedingungen + Pumpstation zum Abpumpen des Kryohalters, ein Tomographiehalter für Tomographie-Kippserien mit Kippwinkeln von mindestens ±70°, ein in-situ Halter (Fusion Select MEMS) der Heizen und simultane elektr. Messungen gestattet und das NanoMEGAS-System für Präzessionsbeugung und die Auswertung orientierungsabhängiger Beugungsaufnahmen.

XRCT Nikon X-Tec XTH225

225 kV Mikrofokus-CT-Anlage

XRCT

180 kV Mikrofokus-CT-Anlage, Offenes, modulares und flexibles Mikro-Röntgen-Computertomographiesystem (µXRCT) mit integrierter Universalprüfmaschine für quasistatische mechanische in situ Untersuchungen

Aktuell im Aufbau: XRCT Procon CT-Alpha Duo

Offene Computertomographie-Anlage mit Zweiröhrenkonfiguration:

  • 240 kV Nanofokusröhre mit minimalem Brennfleck < 1 µm,
  • 320 kV Minifokusröhre,
  • 4K-Flat Panel Detektor mit 100 µm Pixelpitch

Die CT-Anlage wird als offenes System (ohne Vollschutzkabine) im Röntgenraum der MPA Stuttgart aufgebaut. Die nachträgliche Implementierung von Geräten zur In-Situ-Prüfung ist ebenso möglich, wie Ergänzen oder Austausch von Röhren- und Detektoren. Röntgenquellen und Detektor sind motorisch verfahrbar und es sind Fokus-Detektor-Abstände zwischen 350 und 1500 mm realisierbar. Der Fokus-Objekt-Abstand kann zwischen 0,25 und 1400 mm variiert werden, um maximale Vergrößerungen zu erzeugen. Der Drehteller für CT-Untersuchungen ist bis 100 kg belastbar. Darüber hinaus lassen sich 2D Radiographieaufnahmen auch an schwereren Objekten erzeugen.

Die CT-Anlage bietet außerdem die Möglichkeit zur Erzeugung von Phasenkontrast- und Dunkelfeld-Aufnahmen.

Dieses Bild zeigt Marie-Louise  Lemloh

Marie-Louise Lemloh

Dr. rer. nat.

Geschäftsführung

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